測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
新聞資訊
News時間:12-09 2023 來自:祥宇精密
一、影像測量儀的基本原理
影像測量儀是一種基于計算機視覺技術的精密測量設備,它通過將待測物體放置在顯微鏡下,并使用高精度的相機對其進行拍攝,從而獲取待測物體的輪廓和尺寸信息。該設備通過將拍攝到的圖像傳輸?shù)接嬎銠C中,并利用專門的軟件進行分析和處理,從而得到高精度的測量結果。
二、影像測量儀的測量過程
在使用影像測量儀進行測量之前,需要進行一些準備工作。首先,需要將被測物體放置在影像測量儀的載物臺上,并調整載物臺的高度和角度,以確保待測物體能夠正確地被拍攝。同時,還需要將影像測量儀的相機調整到適當?shù)慕咕嗪凸馊Γ源_保拍攝到的圖像清晰度高、對比度好。
準備工作完成后,可以開始進行圖像采集。影像測量儀的相機將對待測物體進行拍攝,并將拍攝到的圖像傳輸?shù)接嬎銠C中。在拍攝過程中,需要注意光線和拍攝角度等因素,以確保拍攝到的圖像質量高、細節(jié)清晰。
在獲取到待測物體的圖像后,需要使用專門的軟件對其進行處理和分析。該軟件可以對圖像進行去噪、二值化、邊緣檢測等操作,從而提取出待測物體的輪廓和尺寸信息。同時,該軟件還可以對多個圖像進行拼接和配準,以提高測量結果的精度。
經過圖像處理后,可以得到待測物體的輪廓和尺寸信息。此時,需要對這些數(shù)據進行進一步的分析和處理。例如,可以計算出待測物體的直徑、半徑、角度等參數(shù),并對這些參數(shù)進行統(tǒng)計分析。此外,還可以將測量結果與標準值進行比較,以判斷待測物體是否符合要求。
三、影像測量儀的應用領域
影像測量儀在精密制造行業(yè)中有著廣泛的應用。例如,在半導體行業(yè)中,需要對半導體芯片進行高精度的尺寸測量和形貌分析。使用影像測量儀可以快速、準確地獲取這些信息,從而為生產過程中的質量控制提供有力支持。
汽車制造過程中需要對零部件進行高精度的尺寸測量和形狀控制。使用影像測量儀可以實現(xiàn)對零部件的快速、準確測量,從而為生產過程中的質量控制提供依據。同時,還可以對汽車的設計和制造進行優(yōu)化和改進,以提高汽車的性能和安全性。
影像測量儀在科學研究領域中也具有廣泛的應用價值。例如,在生物學領域中,需要對細胞、蛋白質等微小結構進行高精度的測量和分析。使用影像測量儀可以快速、準確地獲取這些信息,從而為科學研究提供有力支持。同時,還可以通過對這些信息的深入研究和分析,發(fā)現(xiàn)新的科學規(guī)律和現(xiàn)象。